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  ICON STS 6100 超大规模集成电路测试系统
 
 
产品介绍
         
 


一、系统功能与特点:

  • 覆盖各类数字电路的功能、直流参数及交流参数测试
  • 系统测试速率100MHz;数字系统定时精度±1nS
  • 高压数字通道板(24pin/48pin),驱动比较电平-120V,满足高压CMOS测试要求
  • 系统配置16路程控电源及8路精密测量单元
  • 系统配置灵活,可兼顾高压/高速器件测试,最大512个数字I/O管脚
  • 填表式的菜单编程,同时支持使用高级语言对特殊参数编程
  • 具有“学习法”,便于开发复杂VLSI器件测试图形向量
  • 系统配置算法图形发生器,用于存储器的测试

二、系统测试器件类型:

  • 通用数字电路:TTL/CMOS
  • 存储器(Memory
  • 总线接口电路(BID
  • 微控制器/中央处理器(CPU
  • 可编程逻辑电路(PLD
  • 现场可编程门阵列(FPGA
  • 数字信号处理(DSP
  • 模拟开关(Analog Switch
 
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