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  ICON STS 8203S 半导体分立器件测试系统
 
 
产品介绍
         
 

STS8203S半导体分立器件测试系统是北京华峰测控技术股份有限公司在全新一代测试系统STS8200测试平台上开发的系列测试产品之一。

本系统可用于各类二极管、三极管、绝缘栅型场效应管、结型场效应管、单向和双向可控硅、普通和高速光耦、整流桥、共阴共阳二极管及多阵列器件等各类分立器件的功能和交参数测试。

功率测试电流达±200A,功率源电压±40V,高压可达±2000V,覆盖了绝大多数分立器件品种的测试需求。

该系统测试速度快、精度高、性能稳定、测试安全、适应性好,不仅适用于军工应用领域小批量多品种的测试筛选需求、也适合军民品半导体器件生产领域大批量生产的测试筛选需求。


  • 测试原理符合国标、军标和相关行业标准。
  • 功率参数严格按照300us测试方法,确保器件温升影响控制到最小。
  • 16位驱动与测量分辨率,经过系统精密校准,驱动与测试精度更高。电压的驱动与测量精度达到了0.05%(Fs),电流的驱动与测量精度达到了0.1%(Fs)。
  • 使用操作简便、测试数据准确、稳定。
  • 软硬件钳位保护,测试更安全可靠。
  • 采用菜单填表式的编程模式,提供各类型典型器件测试模板。
  • 提供丰富的测试适配器及通用的多阵列测试适配板,支持多达8个单元的二极管、三极管阵列的测试,支持多路普通与高速光耦的测试(选配)。
  • 二极管自动识别极性功能。
  • 采用四线开尔文插座测试贴片器件,确保精度和稳定性满足测试要求。
  • 测试头内独立精密测量单元用于MOSFET Rds(on)等微弱电压的精确稳定测量。
  • 为满足MOSFET GFS参数的测试,功率源输出在40A条件下可达50V。
  • 开关参数测试选件支持二极管、三极管、MOS管和可控硅的开关参数测试。


      特色功能1:双极型三极管及绝缘栅型场效应管输出特性曲线的测量显示功能。

       

      特色功能2:功率参数测试及测试条件的电压/电流波形显示功能。

       

 
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